[1]
B. Vulević, M. Grbić, i A. Pavlović, „Нивои електричних поља високих учестаности: један пример одређивања мерне несигурности код широкопојасних мерења“, Zb EI Nikola Tesla, vol 26, izd. 26, str. 141–150, Dec. 2016, doi: 10.5937/zeint26-12318.